晶圆/模块级老化测试
VCSEL
适用于VCSEL晶圆级的全方位老化测试与探针解决方案
Trooper-BI
晶圆级 VCSEL 老化测试处设备
针对晶圆级 VCSEL的全方位老化测试与探测解决方案，能够在高达 190°C 的受控温度下一次性测试多达 1,500 个 DUT。
| VCSEL, LED | |
| 每个晶圆多达 1,500 个 | |
| 可编程 | |
| ±50μm | |
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电流源范围: ±20mA~1,500mA 电流测量公差: 0.2mA 或 ±1% 合规电压: 24V DC 电压源范围: 5~24V DC 电压源精度: 20mV 或 ±1% | |
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温度测量控制: 环境温度~190°C 温度设置范围: 25°C~250°C 温度设置分辨率: 0.1°C~0.5°C 工作温度: 20°C~30°C 工作湿度：<85%RH，非冷凝 | |
| 晶圆表面的视觉检测功能 以方块显示通过/不通过状态 每个单元的电流 (If) 和电压 (Vf) 监控 黄金单元监控 |
LED
在高湿度、高温度和高电流条件下，对晶圆级 LED 进行老化测试。
LED 老化测试设备
这是一款完全可定制的 LED 老化测试设备，具有可编程恒定驱动器和单个恒流驱动器以及开路短路测试监控功能。
| LED | |
| 每个晶圆多达 4,000 个 | |
| 可编程 | |
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电流源范围: ±20mA~100mA 电流测量公差: 0.2mA 或 ±1% 合规电压: 24V DC 电压源范围: 5~24V DC 电压源精度: 20mV 或 ±1% | |
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温度测量控制: 环境温度~130°C 温度设置范围: 45°C~130°C 温度设置分辨率: 0.1°C 工作温度: 20°C~30°C 工作湿度: <85%RH，非冷凝 | |
| 晶圆表面的视觉检测功能 以方块显示通过/不通过状态 每个单元的电流 (If) 和电压 (Vf) 监控 探针清理 黄金单元监控 |