晶圆级老化测试
Trooper-BI 系列
Trooper BI 是一个具有多个晶圆卡盘的全自动老化测试系统,在晶圆级的碳化硅老化测试方面性能卓越。它允许多个晶圆同时老化,使用我们的精密主动校准台架系统,可自动将晶圆从晶盒搬运到卡盘。该设备可以支持从 6 英寸到 8 英寸的晶圆,并提供多探针测试,热卡盘温度高达 200°C。
Trooper-BI1
单卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统
Trooper-BI1 是一款全自动单卡盘老化测试设备,为晶圆级碳化硅老化测试提供了卓越的性能。

| 单卡盘 | |
| 碳化硅 (SiC) 功率器件 | |
| 6, 8 英寸 | |
| 晶圆盒(最多 2 个晶圆盒) | |
| 700~1800 | |
| 700~1800 | |
| 多达 20 个晶圆 | |
| Vth、IGSS、IDSS 和触点检查 |
Trooper-BI2
双卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统
Trooper-BI2 是一款全自动双卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 2 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

| 双卡盘 | |
| 碳化硅 (SiC) 功率器件 | |
| 6, 8 英寸 | |
| 晶圆盒(最多 2 个晶圆盒) | |
| 700~1800 | |
| 1400~3600 | |
| 多达 40 个晶圆 | |
| Vth、IGSS、IDSS 和触点检查 |
Trooper-BI4
四卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统
Trooper-BI4 是一款全自动四卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 4 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

| 四卡盘 | |
| 碳化硅 (SiC) 功率器件 | |
| 6, 8 英寸 | |
| 晶圆盒(最多 2 个晶圆盒) | |
| 700~1800 | |
| 2800~7200 | |
| 多达 80 个晶圆 | |
| Vth、IGSS、IDSS 和触点检查 |
Trooper-BI6
六卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统
Trooper-BI6 是一款全自动六卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 6 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

| 六卡盘 | |
| 碳化硅 (SiC) 功率器件 | |
| 6, 8 英寸 | |
| 晶圆盒(最多 2 个晶圆盒) | |
| 700~1800 | |
| 4200 | |
| 多达 120 个晶圆 | |
| Vth、IGSS、IDSS 和触点检查 |
Trooper-BI8-G
八卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统
Trooper-BI8-G 是一款全自动八卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 8 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

| 八卡盘 | |
| 碳化硅 (SiC) 功率器件 | |
| 6, 8 英寸 | |
| 晶圆盒(最多 2 个晶圆盒) | |
| 4000 | |
| 32000 | |
| 多达 1304 个晶圆 | |
| 触点检查、前 Vth、HTGB、后 Vth |
